Szkolenie - Akademia Skutecznego Handlowca

Statystyczne sterowanie procesem SPC z analizą systemów pomiarowych MSA

Kategoria
szkolenia jakości
    Typ
otwarte
ZAKRES TEMATYCZNY SZKOLENIA
Podstawy SPC (Statystycznego Sterowania Procesem) w zastosowaniu do monitorowania procesów produkcyjnych i pomiarowych. Źródła zmienności procesu produkcyjnego i procesu pomiarowego. Rola jakości systemu pomiarowego w kontroli jakości i w sterowaniu procesem produkcyjnym. Ocena zdolności i stabilności procesu produkcji i procesu pomiaru. Karty kontrolne Shawharta. Wskaźniki zdolności procesu produkcji - Cp, Cpk, Pp, Ppk. Wskaźniki zdolności systemu pomiarowego - Cg, Cgk. Liczne przykłady i ćwiczenia.
GRUPA DOCELOWA
Osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC w przedsiębiorstwie, średni szczebel nadzoru procesu produkcji - kierownicy, inżynierowie procesu, technolodzy, liderzy zespołów, brygadziści, mistrzowie, osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy, osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych, pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości, osoby realizujące projekty doskonalące w procesie produkcyjnym  
METODOLOGIA
wykład
ćwiczenia
warsztaty
przykłady
gry i symulacje
INFORMACJE DODATKOWE
Przyczyny i skutki zmienności procesu, statystyczny opis zmienności, pojęcie stabilności procesu.
Rozkład normalny (Gaussa), reguła trzech odchyleń standardowych, graficzny test normalności.
Ocena i interpretacja współczynników zdolności procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk.
Zdolność a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji.
Ocena zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od normalnego.
Karty kontrolne Shewharta dla właściwości mierzalnych oraz według oceny alternatywnej - konstrukcja, interpretacja, obliczanie Cp, Cpk na podstawie kart dla właściwości mierzalnych.
Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
SPC w Six Sigma.

Ćwiczenia:
Graficzny test normalności, ocena spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji na podstawie rozkładu normalnego.
Wyznaczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk.
Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta dla właściwości mierzalnych.
Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta według oceny alternatywnej.
Wyznaczanie wskaźników Cg, Cgk dla prostego zadania pomiarowego.
Zadaj pytanie o to szkolenie >>



Ergo Solutions high5 MPM ACC TUV Berndson Semper Instytut Studiów Podatkowych akademia Szybkiej Nauki Agilebiz.pl Jakro Golden Training 4Grow Circinus BO Navigator Ekodialog ATL TUV Austria Szkolenia BHP Meeting Factory NT GROUP Sp. z o.o. IT Media Grupa Solberg Sukcess Consulting most wanted theta vavatech wik conulting Certes mindsupporters.com Witlani Bioszkolenia AMC Human Skills Lubelskie Centrum Doradztwa i Szkoleń Copernicus Questus Mach & Partner Consulting Sp. z o.o. IKJM Akademia Kształcenia Kadr Kurswiedzy ROE Nowoczesna Edukacja Group247 Network Masters quallab Adept Szkolenie RODO Wow Effect Progress Project SGP Group Fundacja Edukacji Prawnej k2coaching.pl QA Pharma TQM Soft